【图形】商标详情
- 图形
- 81846629
- 已注册
- 普通商标
- 2024-11-08
4209 , 4214 , 4220 4209-为他人研究和开发新产品,
4209-半导体封装设计,
4209-半导体的设计,
4209-微芯片设计服务,
4209-技术研究,
4209-质量体系认证,
4209-质量检测,
4209-集成电路设计,
4214-产品测试,
4214-材料检测,
4214-计算设备检测,
4220-信息技术咨询,
4220-芯片设计软件开发,
4220-计算机软件设计
4209-为他人研究和开发新产品;4209-半导体封装设计;4209-半导体的设计;4209-微芯片设计服务;4209-技术研究;4209-质量体系认证;4209-质量检测;4209-集成电路设计;4214-产品测试;4214-材料检测;4214-计算设备检测;4220-信息技术咨询;4220-芯片设计软件开发;4220-计算机软件设计 - 1930
- 2025-04-06
- 1942
- 2025-07-07
- 2025-07-07-2035-07-06
- 上海芯同芯科技有限公司
- 上海市上海市************
- 超凡知识产权服务股份有限公司
2025-09-10 商标注册申请 | 注册证发文
2025-03-23 商标注册申请 | 等待驳回复审
2025-01-27 商标注册申请 | 驳回通知发文
2024-11-30 商标注册申请 | 受理通知书发文
2024-11-08 商标注册申请 | 申请收文
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- 已注册
- 普通商标
- 2024-11-08
4209 , 4214 , 4220 4209-为他人研究和开发新产品,
4209-半导体封装设计,
4209-半导体的设计,
4209-微芯片设计服务,
4209-技术研究,
4209-质量体系认证,
4209-质量检测,
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4214-产品测试,
4214-材料检测,
4214-计算设备检测,
4220-信息技术咨询,
4220-芯片设计软件开发,
4220-计算机软件设计
4209-为他人研究和开发新产品;4209-半导体封装设计;4209-半导体的设计;4209-微芯片设计服务;4209-技术研究;4209-质量体系认证;4209-质量检测;4209-集成电路设计;4214-产品测试;4214-材料检测;4214-计算设备检测;4220-信息技术咨询;4220-芯片设计软件开发;4220-计算机软件设计 - 1930
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2025-09-10 商标注册申请 | 注册证发文
2025-03-23 商标注册申请 | 等待驳回复审
2025-01-27 商标注册申请 | 驳回通知发文
2024-11-30 商标注册申请 | 受理通知书发文
2024-11-08 商标注册申请 | 申请收文
