【ESILICON】商标详情
- ESILICON
- 11259014
- 已注册
- 普通商标
- 2012-07-26
4209 , 4214 , 4216 , 4220 4209-半导体和电子产品的研究与开发(替他人),
4209-半导体和电子产品的研究与开发(替他人,通过全球通讯网络提供),
4209-工程学,
4209-技术研究,
4209-技术研究(半导体和电子产品设计和加工生产领域的),
4209-技术研究(有关半导体设计、布局、测试、铸造和包装,通过在线数据库提供),
4209-替他人研究和开发新产品(半导体生产加工机器和系统以及半导体测量工具),
4209-质量控制,
4209-质量控制 服务(替他人,半导体装置领域的),
4209-质量检测(与半导体装置相关),
4209-集成电路的研究与开发,
4214-半导体测试,
4214-半导体生产加工机器和系统以及半导体测量工具的测试,
4214-材料测试,
4214-材料测试(与半导体装置相关),
4214-物理研究,
4214-集成电路测试,
4216-半导体和电子产品的外观设计,
4216-半导体和电子产品的外观设计(通过全球通讯网络提供),
4216-工业品外观设计,
4216-工业品外观设计咨询(有关半导体和电子产品),
4216-集成电路外观设计,
4220-在线非下载计算机软件出租(收费或免费,用于电子设计自动化),
4220-计算机软件出租(收费或免费),
4220-计算机软件咨询,
4220-计算机软件设计
4209-半导体和电子产品的研究与开发(替他人);4209-半导体和电子产品的研究与开发(替他人,通过全球通讯网络提供);4209-工程学;4209-技术研究;4209-技术研究(半导体和电子产品设计和加工生产领域的);4209-技术研究(有关半导体设计、布局、测试、铸造和包装,通过在线数据库提供);4209-替他人研究和开发新产品(半导体生产加工机器和系统以及半导体测量工具);4209-质量控制;4209-质量控制服务(替他人,半导体装置领域的);4209-质量检测(与半导体装置相关);4209-集成电路的研究与开发;4214-半导体测试;4214-半导体生产加工机器和系统以及半导体测量工具的测试;4214-材料测试;4214-材料测试(与半导体装置相关);4214-物理研究;4214-集成电路测试;4216-半导体和电子产品的外观设计;4216-半导体和电子产品的外观设计(通过全球通讯网络提供);4216-工业品外观设计;4216-工业品外观设计咨询(有关半导体和电子产品);4216-集成电路外观设计;4220-在线非下载计算机软件出租(收费或免费,用于电子设计自动化);4220-计算机软件出租(收费或免费);4220-计算机软件咨询;4220-计算机软件设计 - 1420
- 2014-08-20
- 1432
- 2014-11-21
- 2014-11-21-2024-11-20
- 壹晶半导体技术公司
- 加利福尼亚森尼维尔************
- 北京联德知识产权代理有限公司
2015-04-21 商标注册申请 | 注册证发文
2015-04-21 商标注册申请 | 等待注册证发文
2014-04-16 商标注册申请 | 等待补正回文
2014-04-16 商标注册申请 | 补正回文
2014-04-16 商标注册申请 | 补正收文
2014-01-29 商标注册申请 | 等待补正回文
2014-01-29 商标注册申请 | 补正回文
2013-12-09 商标注册申请 | 补正收文
2013-09-30 商标注册申请 | 等待补正回文
2013-09-30 商标注册申请 | 补正回文
2013-09-30 商标注册申请 | 补正收文
2013-08-05 商标注册申请 | 等待补正回文
2013-08-05 商标注册申请 | 补正回文
2013-08-05 商标注册申请 | 补正收文
2013-05-29 商标注册申请 | 等待补正回文
2013-05-29 商标注册申请 | 补正回文
2013-05-29 商标注册申请 | 补正收文
2012-08-06 商标注册申请 | 打印受理通知
2012-07-26 商标注册申请 | 申请收文
- ESILICON
- 11259014
- 已注册
- 普通商标
- 2012-07-26
4209 , 4214 , 4216 , 4220 4209-半导体和电子产品的研究与开发(替他人),
4209-半导体和电子产品的研究与开发(替他人,通过全球通讯网络提供),
4209-工程学,
4209-技术研究,
4209-技术研究(半导体和电子产品设计和加工生产领域的),
4209-技术研究(有关半导体设计、布局、测试、铸造和包装,通过在线数据库提供),
4209-替他人研究和开发新产品(半导体生产加工机器和系统以及半导体测量工具),
4209-质量控制,
4209-质量控制服务(替他人,半导体装置领域的),
4209-质量检测(与半导体装置相关),
4209-集成电路的研究与开发,
4214-半导体测试,
4214-半导体生产加工机器和系统以及半导体测量工具的测试,
4214-材料测试,
4214-材料测试(与半导体装置相关),
4214-物理研究,
4214-集成电路测试,
4216-半导体和电子产品的外观设计,
4216-半导体和电子产品的外观设计(通过全球通讯网络提供),
4216-工业品外观设计,
4216-工业品外观设计咨询(有关半导体和电子产品),
4216-集成电路外观设计,
4220-在线非下载计算机软件出租(收费或免费,用于电子设计自动化),
4220-计算机软件出租(收费或免费),
4220-计算机软件咨询,
4220-计算机软件设计
4209-半导体和电子产品的研究与开发(替他人);4209-半导体和电子产品的研究与开发(替他人,通过全球通讯网络提供);4209-工程学;4209-技术研究;4209-技术研究(半导体和电子产品设计和加工生产领域的);4209-技术研究(有关半导体设计、布局、测试、铸造和包装,通过在线数据库提供);4209-替他人研究和开发新产品(半导体生产加工机器和系统以及半导体测量工具);4209-质量控制;4209-质量控制服务(替他人,半导体装置领域的);4209-质量检测(与半导体装置相关);4209-集成电路的研究与开发;4214-半导体测试;4214-半导体生产加工机器和系统以及半导体测量工具的测试;4214-材料测试;4214-材料测试(与半导体装置相关);4214-物理研究;4214-集成电路测试;4216-半导体和电子产品的外观设计;4216-半导体和电子产品的外观设计(通过全球通讯网络提供);4216-工业品外观设计;4216-工业品外观设计咨询(有关半导体和电子产品);4216-集成电路外观设计;4220-在线非下载计算机软件出租(收费或免费,用于电子设计自动化);4220-计算机软件出租(收费或免费);4220-计算机软件咨询;4220-计算机软件设计 - 1420
- 2014-08-20
- 1432
- 2014-11-21
- 2014-11-21-2024-11-20
- 壹晶半导体技术公司
- 加利福尼亚森尼维尔************
- 北京联德知识产权代理有限公司
2015-04-21 商标注册申请 | 注册证发文
2015-04-21 商标注册申请 | 等待注册证发文
2014-04-16 商标注册申请 | 等待补正回文
2014-04-16 商标注册申请 | 补正回文
2014-04-16 商标注册申请 | 补正收文
2014-01-29 商标注册申请 | 等待补正回文
2014-01-29 商标注册申请 | 补正回文
2013-12-09 商标注册申请 | 补正收文
2013-09-30 商标注册申请 | 等待补正回文
2013-09-30 商标注册申请 | 补正回文
2013-09-30 商标注册申请 | 补正收文
2013-08-05 商标注册申请 | 等待补正回文
2013-08-05 商标注册申请 | 补正回文
2013-08-05 商标注册申请 | 补正收文
2013-05-29 商标注册申请 | 等待补正回文
2013-05-29 商标注册申请 | 补正回文
2013-05-29 商标注册申请 | 补正收文
2012-08-06 商标注册申请 | 打印受理通知
2012-07-26 商标注册申请 | 申请收文