【上谱分析】商标详情
- 上谱分析
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- 已注册
- 普通商标
- 2014-01-14
4209 , 4210 , 4211 , 4212 , 4214 , 4217 , 4220 4209-技术研究,
4209-物理研究,
4209-科学实验室服务,
4209-质量检测,
4210-地质研究,
4211-化学分析,
4212-生物学研究,
4214-材料测试,
4217-建筑学,
4220-计算机编程
4209-技术研究;4209-物理研究;4209-科学实验室服务;4209-质量检测;4210-地质研究;4211-化学分析;4212-生物学研究;4214-材料测试;4217-建筑学;4220-计算机编程 - 1433
- 2014-11-27
- 1445
- 2015-02-28
- 2015-02-28-2025-02-27
- 武汉上谱分析科技有限责任公司
- 湖北省武汉市************
- 中智联合（武汉）知识产权管理有限公司
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2015-04-23 商标注册申请 | 注册证发文
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4209 , 4210 , 4211 , 4212 , 4214 , 4217 , 4220 4209-技术研究,
4209-物理研究,
4209-科学实验室服务,
4209-质量检测,
4210-地质研究,
4211-化学分析,
4212-生物学研究,
4214-材料测试,
4217-建筑学,
4220-计算机编程
4209-技术研究;4209-物理研究;4209-科学实验室服务;4209-质量检测;4210-地质研究;4211-化学分析;4212-生物学研究;4214-材料测试;4217-建筑学;4220-计算机编程 - 1433
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