【NANO METROLOGY】商标详情
- NANO METROLOGY
- 17612042
- 已驳回
- 普通商标
- 2015-08-06
4209 , 4220 4209-技术研究,
4209-技术项目研究,
4209-替他人研究和开发新产品,
4220-把有形的数据或文件转换成电子媒体,
4220-计算机软件出租,
4220-计算机软件咨询,
4220-计算机软件安装,
4220-计算机软件更新,
4220-计算机软件维护,
4220-计算机软件设计
4209-技术研究;4209-技术项目研究;4209-替他人研究和开发新产品;4220-把有形的数据或文件转换成电子媒体;4220-计算机软件出租;4220-计算机软件咨询;4220-计算机软件安装;4220-计算机软件更新;4220-计算机软件维护;4220-计算机软件设计 - 西安纳诺精密测量设备有限责任公司
- 陕西省西安市************
- 北京恩诺知识产权代理有限公司
2016-07-20 商标注册申请 | 等待驳回复审
2016-05-26 商标注册申请 | 等待驳回通知发文
2016-05-26 商标注册申请 | 驳回通知发文
2015-11-25 商标注册申请 | 受理通知书发文
2015-11-25 商标注册申请 | 等待受理通知书发文
2015-08-06 商标注册申请 | 申请收文
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- 17612042
- 已驳回
- 普通商标
- 2015-08-06
4209 , 4220 4209-技术研究,
4209-技术项目研究,
4209-替他人研究和开发新产品,
4220-把有形的数据或文件转换成电子媒体,
4220-计算机软件出租,
4220-计算机软件咨询,
4220-计算机软件安装,
4220-计算机软件更新,
4220-计算机软件维护,
4220-计算机软件设计
4209-技术研究;4209-技术项目研究;4209-替他人研究和开发新产品;4220-把有形的数据或文件转换成电子媒体;4220-计算机软件出租;4220-计算机软件咨询;4220-计算机软件安装;4220-计算机软件更新;4220-计算机软件维护;4220-计算机软件设计 - 西安纳诺精密测量设备有限责任公司
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2015-08-06 商标注册申请 | 申请收文