【AERIS】商标详情
- AERIS
- 21350049
- 待审中
- 普通商标
- 2016-09-20
-工业分析和研究服务,
-提供关于科学测量器械、X光探测器、X光影像探测器、光子计数X光探测器、X光分析设备、X光设备、X光衍射设备、衍射仪、X光衍射仪、X光分析仪、晶片分析仪和X光管的租赁和出租服务,
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-提供科学技术以及与之相关的服务和设计服务,
-计算机软件的设计、开发和编程
-工业分析和研究服务;-提供关于科学测量器械、X光探测器、X光影像探测器、光子计数X光探测器、X光分析设备、X光设备、X光衍射设备、衍射仪、X光衍射仪、X光分析仪、晶片分析仪和X光管的租赁和出租服务;-提供关于科学测量器械、X光探测器、X光影像探测器、光子计数X光探测器、X光分析设备、X光设备、X光衍射设备、衍射仪、X光衍射仪、X光分析仪、晶片分析仪和X光管的设计服务;-提供关于科学测量器械、X光探测器、X光影像探测器、光子计数X光探测器、X光分析设备、X光设备、X光衍射设备、衍射仪、X光衍射仪、X光分析仪、晶片分析仪和X光管的选择、操作和使用的建议和咨询服务;-提供科学技术以及与之相关的服务和设计服务;-计算机软件的设计、开发和编程 - 帕纳科公司
- 上艾瑟尔省阿尔梅洛************
- 北京润平知识产权代理有限公司
2017-03-31 商标注册申请 | 等待补正通知发文
2016-09-20 商标注册申请 | 申请收文
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