【AOSPI】商标详情
- AOSPI
- G1453421
- 待审中
- 普通商标
- 2019-02-28
0910 , 0911 0910-光学检验设备,
0910-半导体晶片的检验设备,
0910-半导体检验装置,
0910-半导体测试设备,
0910-半导体用X射线检查装置,
0910-半导体用视觉检测设备,
0910-平板显示装置的功能检查设备,
0910-显示器检验设备,
0910-显示面板检验设备,
0910-用于检查半导体元件的光学测量装置,
0910-用于检查印刷电路板(PCB)上焊膏印刷状态的检查设备,
0910-用于检查印刷电路板(PCB)上组装电子部件异常的设备,
0910-用于检查印刷电路板(PCB) 上部件和不规则性状况的检查设备,
0910-用于测量和检测液晶显示器表面缺陷的设备,
0910-用于确定有缺陷机电部件的图像检查设备,
0911-光学检验设备,
0911-用于检查半导体元件的光学测量装置
0910-光学检验设备;0910-半导体晶片的检验设备;0910-半导体检验装置;0910-半导体测试设备;0910-半导体用X射线检查装置;0910-半导体用视觉检测设备;0910-平板显示装置的功能检查设备;0910-显示器检验设备;0910-显示面板检验设备;0910-用于检查半导体元件的光学测量装置;0910-用于检查印刷电路板(PCB)上焊膏印刷状态的检查设备;0910-用于检查印刷电路板(PCB)上组装电子部件异常的设备;0910-用于检查印刷电路板(PCB)上部件和不规则性状况的检查设备;0910-用于测量和检测液晶显示器表面缺陷的设备;0910-用于确定有缺陷机电部件的图像检查设备;0911-光学检验设备;0911-用于检查半导体元件的光学测量装置 - MIRTEC CO., LTD.
- 京畿道军浦市************
- 国际局
2019-06-12 领土延伸 | 驳回电子发文
2019-02-28 商标注册申请 | 申请收文
2019-02-28 领土延伸 | 申请收文
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0910-半导体晶片的检验设备,
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