
【RUBILUX】商标详情

- RUBILUX
- G1707475
- 待审中
- 普通商标
- 2023-01-12
0910 0910-以及用于提供从零下200摄氏度到450摄氏度的准确、精确和可重复温度测量的荧光涂层光纤测温探头,
0910-用于在高纵横比成形和加工工艺中控制晶片温度的荧光涂层光纤测温探头,
0910-用于控制半导体蚀刻和沉积工艺的荧光涂层光纤测温探头,
0910-用于控制涉及射频、电磁场和干扰、磁场和高压的工艺的荧光涂层光纤测温探头,
0910-用于控制涉及电力变压器工艺的荧光涂层光纤测温探头,
0910-用于控制磁共振成像系统的荧光涂层光纤测温探头
0910-以及用于提供从零下200摄氏度到450摄氏度的准确、精确和可重复温度测量的荧光涂层光纤测温探头;0910-用于在高纵横比成形和加工工艺中控制晶片温度的荧光涂层光纤测温探头;0910-用于控制半导体蚀刻和沉积工艺的荧光涂层光纤测温探头;0910-用于控制涉及射频、电磁场和干扰、磁场和高压的工艺的荧光涂层光纤测温探头;0910-用于控制涉及电力变压器工艺的荧光涂层光纤测温探头;0910-用于控制磁共振成像系统的荧光涂层光纤测温探头 - 2022-12-08-2032-12-08
- ADVANCED ENERGY INDUSTRIES, INC.
- 科罗拉多丹佛************
- 国际局
2023-10-18 领土延伸 | 审查
2023-01-12 商标注册申请 | 申请收文
2023-01-12 领土延伸 | 申请收文
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- G1707475
- 待审中
- 普通商标
- 2023-01-12
0910 0910-以及用于提供从零下200摄氏度到450摄氏度的准确、精确和可重复温度测量的荧光涂层光纤测温探头,
0910-用于在高纵横比成形和加工工艺中控制晶片温度的荧光涂层光纤测温探头,
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- ADVANCED ENERGY INDUSTRIES, INC.
- 科罗拉多丹佛************
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