【ECCS】商标详情
- ECCS
- 72387857
- 已初审
- 普通商标
- 2023-06-21
0910 , 0911 -使用共聚焦显微镜的电化学反应的原位可视化用系统,
-半导体晶片检查用成像装置,
0910-使用共聚焦显微镜的电池电化学反映用可视化监测仪,
0910-半导体晶片的检验装置,
0910-半导体材料和元件检测设备,
0910-半导体检测机器和仪器,
0910-探测器,
0910-材料检验仪器和机器,
0910-测量装置,
0910-精密测量仪器,
0910-非医用测试仪,
0911-光学器械和仪器,
0911-共聚焦显微镜,
0911-电子显微镜
-使用共聚焦显微镜的电化学反应的原位可视化用系统;-半导体晶片检查用成像装置;0910-使用共聚焦显微镜的电池电化学反映用可视化监测仪;0910-半导体晶片的检验装置;0910-半导体材料和元件检测设备;0910-半导体检测机器和仪器;0910-探测器;0910-材料检验仪器和机器;0910-测量装置;0910-精密测量仪器;0910-非医用测试仪;0911-光学器械和仪器;0911-共聚焦显微镜;0911-电子显微镜 - 1899
- 2024-08-13
- 雷射科技股份有限公司
- 日本************
- 上海恒方知识产权咨询有限公司
2024-08-06 驳回复审 | 实审裁文发文
2023-12-07 驳回复审 | 申请收文
2023-11-07 商标注册申请 | 驳回通知发文
2023-09-23 商标注册申请 | 受理通知书发文
2023-09-12 商标注册申请 | 补正通知发文
2023-06-21 商标注册申请 | 申请收文
商标初步审定公告 2024-08-13 第1899期 查看公告
- ECCS
- 72387857
- 已初审
- 普通商标
- 2023-06-21
0910 , 0911 -使用共聚焦显微镜的电化学反应的原位可视化用系统,
-半导体晶片检查用成像装置,
0910-使用共聚焦显微镜的电池电化学反映用可视化监测仪,
0910-半导体晶片的检验装置,
0910-半导体材料和元件检测设备,
0910-半导体检测机器和仪器,
0910-探测器,
0910-材料检验仪器和机器,
0910-测量装置,
0910-精密测量仪器,
0910-非医用测试仪,
0911-光学器械和仪器,
0911-共聚焦显微镜,
0911-电子显微镜
-使用共聚焦显微镜的电化学反应的原位可视化用系统;-半导体晶片检查用成像装置;0910-使用共聚焦显微镜的电池电化学反映用可视化监测仪;0910-半导体晶片的检验装置;0910-半导体材料和元件检测设备;0910-半导体检测机器和仪器;0910-探测器;0910-材料检验仪器和机器;0910-测量装置;0910-精密测量仪器;0910-非医用测试仪;0911-光学器械和仪器;0911-共聚焦显微镜;0911-电子显微镜 - 1899
- 2024-08-13
- 雷射科技股份有限公司
- 日本************
- 上海恒方知识产权咨询有限公司
2024-08-06 驳回复审 | 实审裁文发文
2023-12-07 驳回复审 | 申请收文
2023-11-07 商标注册申请 | 驳回通知发文
2023-09-23 商标注册申请 | 受理通知书发文
2023-09-12 商标 注册申请 | 补正通知发文
2023-06-21 商标注册申请 | 申请收文
商标初步审定公告 2024-08-13 第1899期 查看公告
