【PDM】商标详情
- PDM
- G712186
- 其他
- 普通商标
0913 , 0918 -X光探测仪,
-光学,
-反射现象来测定层厚及其结构的仪器和设备,
-吸收,
-层厚测量仪器和设备,
-属于类的科学,
-折射,
-散射,
-用于生成电磁辐射的用具,
-电磁辐射探测仪,
-监测和量具用具和仪器,
-通电磁辐射方法测量层厚的仪器和设备,
-通过测量衍射,
0913-发光,
0918-非医用X光管
-X光探测仪;-光学;-反射现象来测定层厚及其结构的仪器和设备;-吸收;-层厚测量仪器和设备;-属于类的科学;-折射;-散射;-用于生成电磁辐射的用具;-电磁辐射探测仪;-监测和量具用具和仪器;-通电磁辐射方法测量层厚的仪器和设备;-通过测量衍射;0913-发光;0918-非医用X光管 - 1998-12-17
- 2008-12-17-2018-12-17
- HELMUT FISCHER GMBH INSTITUT FUR ELEKTRONIK UND MESSTECHNIK
- 巴登-符腾堡辛德芬根************
- 国际局
- PDM
- G712186
- 其他
- 普通商标
0913 , 0918 -X光探测仪,
-光学,
-反射现象来测定层厚及其结构的仪器和设备,
-吸收,
-层厚测量仪器和设备,
-属于类的科学,
-折射,
-散射,
-用于生成电磁辐射的用具,
-电磁辐射探测仪,
-监测和量具用具和仪器,
-通电磁辐射方法测量层厚的仪器和设备,
-通过测量衍射,
0913-发光,
0918-非医用X光管
-X光探测仪;-光学;-反射现象来测定层厚及其结构的仪器和设备;-吸收;-层厚测量仪器和设备;-属于类的科学;-折射;-散射;-用于生成电磁辐射的用具;-电磁辐射探测仪;-监测和量具用具和仪器;-通电磁辐射方法测量层厚的仪器和设备;-通过测量衍射;0913-发光;0918-非医用X光管 - 1998-12-17
- 2008-12-17-2018-12-17
- HELMUT FISCHER GMBH INSTITUT FUR ELEKTRONIK UND MESSTECHNIK
- 巴登-符腾堡辛德芬根************
- 国际局
