【NOVA PROCESS INSIGHT】商标详情
- NOVA PROCESS INSIGHT
- G1422154
- 已注册
- 普通商标
- 2018-09-13
0901 , 0908 , 0910 , 0913 0901-用于半导体制造过程控制的监控、测量和检查的设备和系统，以及与其一起使用的计算机程序,
0908-用于半导体制造过程控制的监控、测量和检查的设备和系统，以及与其一起使用的计算机程序,
0910-用于半导体制造过程控制的监控、测量和检查的设备和系统，以及与其一起使用的计算 机程序,
0913-用于半导体制造过程控制的监控、测量和检查的设备和系统，以及与其一起使用的计算机程序
0901-用于半导体制造过程控制的监控、测量和检查的设备和系统，以及与其一起使用的计算机程序;0908-用于半导体制造过程控制的监控、测量和检查的设备和系统，以及与其一起使用的计算机程序;0910-用于半导体制造过程控制的监控、测量和检查的设备和系统，以及与其一起使用的计算机程序;0913-用于半导体制造过程控制的监控、测量和检查的设备和系统，以及与其一起使用的计算机程序 - 2018-06-07-2028-06-07
- NOVA LTD
- 中央区瑞荷渥特************
- 国际局
2019-02-14 领土延伸 | 审查
2018-09-13 商标注册申请 | 申请收文
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- 2018-09-13
0901 , 0908 , 0910 , 0913 0901-用于半导体制造过程控制的监控、测量和检查的设备和系统，以及与其一起使用的计算机程序,
0908-用于半导体制造过程控制的监控、测量和检查的设备和系统，以及与其一起使用的计算机程序,
0910-用于半导体制造过程控制的监控、测量和检查的设备和系统，以及与其一起使用的计算机程序,
0913-用于半导体制造过程控制的监控、测量和检查的设备和系统，以及与其一起使用的计算机程序
0901-用于半导体制造过程控制的监控、测量和检查的设备和系统，以及与其一起使用的计算机程序;0908-用于半导体制造过程控制的监控、测量和检查的设备和系统，以及与其一起使用的计算机程序;0910-用于半导体制造过程控制的监控、测量和检查的设备和系统，以及与其一起使用的计算机程序;0913-用于半导体制造过程控制的监控、测量和检查的设备和系统，以及与其一起使用的计算机程序 - 2018-06-07-2028-06-07
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2018-09-13 商标注册申请 | 申请收文
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