【MP】商标详情
- MP
- G939319
- 已注册
- 普通商标
- 2007-11-20
0910 0910-对轮胎质量进行激光测量的计算机化的电子设备
0910-对轮胎质量进行激光测量的计算机化的电子设备 - 2017-05-18-2027-05-18
- Micro-Poise Measurement Systems， LLC
- 俄亥俄伍斯特************
- 国际局
2018-04-11 国际变更 | 申请核准审核
2018-03-13 国际续展 | 申请核准审核
2017-11-14 国际变更 | 申请收文
2017-06-13 国际续展 | 申请收文
2011-12-19 商标注册申请 | 开具注册证明完成
2011-11-11 商标注册申请 | 出具商标注册证明中
2011-11-11 商标注册申请 | 开具注册证明待审中
2008-09-19 商标注册申请 | 国际领土延伸完成
2008-09-19 领土延伸 | 审查
2007-11-20 领土延伸 | 申请 收文
- MP
- G939319
- 已注册
- 普通商标
- 2007-11-20
0910 0910-对轮胎质量进行激光测量的计算机化的电子设备
0910-对轮胎质量进行激光测量的计算机 化的电子设备 - 2017-05-18-2027-05-18
- Micro-Poise Measurement Systems， LLC
- 俄亥俄伍斯特************
- 国际局
2018-04-11 国际变更 | 申请核准审核
2018-03-13 国际续展 | 申请核准审核
2017-11-14 国际变更 | 申请收文
2017-06-13 国际续展 | 申请收文
2011-12-19 商标注册申请 | 开具注册证明完成
2011-11-11 商标注册申请 | 出具商标注册证明中
2011-11-11 商标注册申请 | 开具注册证明待审中
2008-09-19 商标注册申请 | 国际领土延伸完成
2008-09-19 领土延伸 | 审查
2007-11-20 领土延伸 | 申请收文
