【NIDEK】商标详情
- NIDEK
- 275692
- 已注册
- 普通商标
- 1986-03-21
-光学,
-光学透视检验器,
-光距透镜,
-平面测定机,
-晶片传送装置,
-检查用显微镜仪器,
-检验器械及材料,
-自动硅晶片测量仪器,
-自动米距透镜,
-视力测微计,
-辐射线仪器
-光学;-光学透视检验器;-光距透镜;-平面测定机;-晶片传送装置;-检查用显微镜仪器;-检验器械及材料;-自动硅晶片测量仪器;-自动米距透镜;-视力测微计;-辐射线仪器 - 158
- 1986-10-20
- 167
- 1987-01-20
- 2017-01-20-2027-01-19
- 株式会社尼德克
- 爱知蒲郡市************
- 永新专利商标代理有限公司
2017-03-31 商标续展 | 核准通知打印发送
2017-03-08 商标续展 | 打印受理通知书
2017-03-08 商标续展 | 等待打印受理通知书
2016-12-09 商标续展 | 申请收文
2007-05-15 变更商标申请人/注册人名义/地址 | 打印核准变更证明
2007-05-15 商标续展 | 打印核准续展注册商标证明
2006-11-28 变更商标申请人/注册人名义/地址 | 打印受理通知
2006-11-03 变更商标申请人/注册人名义/地址 | 申请收文
2006-11-02 商标续展 | 申请收文
2006-07-31 变更商标代理人 | 打印核准变更代理人通知书
2006-06-20 变更商标代理人 | 打印受理通知
2006-05-24 变更商标代理人 | 申请收文
1986-03-21 商标注册申请 | 申请收文
- NIDEK
- 275692
- 已注册
- 普通商标
- 1986-03-21
-光学,
-光学透视检验器,
-光距透镜,
-平面测定机,
-晶片传送装置,
-检查用显微镜仪器,
-检验器械及材料,
-自动硅晶片测量仪器,
-自动米距透镜,
-视力测微计,
-辐射线仪器
-光学;-光学透视检验器;-光距透镜;-平面测定机;-晶片传送装置;-检查用显微镜仪器;-检验器械及材料;-自动硅晶片测量仪器;-自动米距透镜;-视力测微计;-辐射线仪器 - 158
- 1986-10-20
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- 2017-01-20-2027-01-19
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2006-11-28 变更商标申请人/注册人名义/地址 | 打印受理通知
2006-11-03 变更商标申请人/注册人名义/地址 | 申请收文
2006-11-02 商标续展 | 申请收文
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2006-05-24 变更商标代理人 | 申请收文
1986-03-21 商标注册申请 | 申请收文
