【JCAP】商标详情
- JCAP
- 13699961
- 已注册
- 普通商标
- 2013-12-11
4209 , 4214 , 4216 4209-半导体及相关产品的技术研究与开发(替他人),
4209-半导体及相关产品的质量检验,
4209-半导体及相关产品的质量鉴定,
4209-技术项目研究,
4209-质量检测,
4214-材料测试,
4216-半导体封装设计
4209-半导体及相关产品的技术研究与开发(替他人);4209-半导体及相关产品的质量检验;4209-半导体及相关产品的质量鉴定;4209-技术 项目研究;4209-质量检测;4214-材料测试;4216-半导体封装设计 - 1439
- 2015-01-13
- 1451
- 2015-04-14
- 2015-04-14-2025-04-13
- 江阴长电先进封装有限公司
- 江苏省无锡市************
- 江苏天阳商标专利事务所有限公司
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2015-05-23 商标注册申请 | 注册证发文
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2014-06-19 商标注册申请 | 等待补正回文
2014-06-19 商标注册申请 | 补正回文
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2013-12-11 商标注册申请 | 申请收文
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4209 , 4214 , 4216 4209-半导体及相关产品的技术研究与开发(替他人),
4209-半导体及相关产品的质量检验,
4209-半导体及相关产品的质量鉴定,
4209-技术项目研究,
4209-质量检测,
4214-材料测试,
4216-半导体封装设计
4209-半导体及相关产品的技术研究与开发(替他人);4209-半导体及相关产品的质量检验;4209-半导体及相关产品的质量鉴定;4209-技术项目研究;4209-质量检测;4214-材料测试;4216-半导体封装设计 - 1439
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