【MICROPOISE MEASUREMENT SYSTEMS LLC】商标详情
- MICROPOISE MEASUREMENT SYSTEMS LLC
- G938559
- 已注册
- 普通商标
- 2007-11-09
0910 0910-用于对轮胎质量进行激光测量的计算机化的电子设备
0910-用于对轮胎质量进行激光测量的计算机化的电子设备 - 2017-05-18-2027-05-18
- Micro-Poise Measurement Systems， LLC
- 俄亥俄伍斯特************
- 国际局
2018-04-11 国际变更 | 申请核准审核
2018-03-13 国际续展 | 申请核准审核
2017-11-14 国际变更 | 申请收文
2017-06-13 国际续展 | 申请收文
2012-09-24 商标注册申请 | 驳回复审完成
2012-03-12 商标注册申请 | 开具注册证明完成
2012-02-09 商标注册申请 | 出具商标注册证明中
2012-02-09 商标注册申请 | 开具注册证明待审中
2011-12-15 商标注册申请 | 驳回复审完成
2009-02-23 驳回复审 | 打印受理通知
2009-01-13 商标注册申请 | 收到驳回复审申请或补充材料,待审
2009-01-13 商标注册申请 | 驳回复审中
2009-01-13 商标注册申请 | 驳回复审待审中
2008-10-29 商标注册申请 | 国际领土延伸完成
2007-11-09 商标注册申请 | 领土延伸中
2007-11-09 领土延伸 | 申请收文
- MICROPOISE MEASUREMENT SYSTEMS LLC
- G938559
- 已注册
- 普通商标
- 2007-11-09
0910 0910-用于对轮胎质量进行激光测量的计算机化的电子设备
0910-用于对轮胎质量进行激光测量的计算机化的电子设备 - 2017-05-18-2027-05-18
- Micro-Poise Measurement Systems ， LLC
- 俄亥俄伍斯特************
- 国际局
2018-04-11 国际变更 | 申请核准审核
2018-03-13 国际续展 | 申请核准审核
2017-11-14 国际变更 | 申请收文
2017-06-13 国际续展 | 申请收文
2012-09-24 商标注册申请 | 驳回复审完成
2012-03-12 商标注册申请 | 开具注册证明完成
2012-02-09 商标注册申请 | 出具商标注册证明中
2012-02-09 商标注册申请 | 开具注册证明待审中
2011-12-15 商标注册申请 | 驳回复审完成
2009-02-23 驳回复审 | 打印受理通知
2009-01-13 商标注册申请 | 收到驳回复审申请或补充材料,待审
2009-01-13 商标注册申请 | 驳回复审中
2009-01-13 商标注册申请 | 驳回复审待审中
2008-10-29 商标注册申请 | 国际领土延伸完成
2007-11-09 商标注册申请 | 领土延伸中
2007-11-09 领土延伸 | 申请收文
