【MP;MICROPOISE MEASUREMENT SYSTEMS LLC】商标详情
- MP;MICROPOISE MEASUREMENT SYSTEMS LLC
- G939318
- 已注册
- 普通商标
- 2007-11-20
0910 0910-对轮胎质量进行激光测量的计算机化的电子设备
0910-对轮胎质量进行激光测量的计算机化的电子设备 - 2017-05-18-2027-05-18
- Micro-Poise Measurement Systems， LLC
- 俄亥俄伍斯特************
- 国际局
2018-04-11 国际变更 | 申请核准审核
2018-03-13 国际续展 | 申请核准审核
2017-11-14 国际变更 | 申请收文
2017-06-13 国际续展 | 申请收文
2009-02-23 驳回复审 | 打印受理通知
2007-11-20 领土延伸 | 申请收文
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- G939318
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- 2007-11-20
0910 0910-对轮胎质量进行激光测量的计算机化的电子设备
0910- 对轮胎质量进行激光测量的计算机化的电子设备 - 2017-05-18-2027-05-18
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- 俄亥俄伍斯特************
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