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-上述产品的部分,

-上述仪器的主要配件以及探测器,

-尤其是用于材料的非破坏性实验的电子仪器,

-探测头,

-探测头,

-探测线圈,

-用于探测和说明的电子仪器以及指示器,

-用于测量层,

-用于测量电性能,

-用于电子仪器及上述仪器控制信息处理和已知信息说明的电子器械,

-用于电子仪器及上述仪器控制和已知录入到数据载体上信息的说明的计算机程序,

-用具,

-磁性能或其他物理性质的电子仪器,

-膜厚度或其他体积的电子仪器,

-铁磁和或金属物体检测器