
【FOERSTER F】商标详情

- FOERSTER F
- G1200781
- 已注册
- 普通商标
- 2014-05-01
0901 , 0910 , 0913 0901-上述产品的零部件,
0901-用于控制电子设备以及评估其信息并展示其信息的录制在数据载体上的软件和程序,
0901-用于控制电子设备和评估其信息的电子数据处理设备,
0910-上述产品的零部件,
0910-用于上述设备的探测器、传感器、检测头以及探测线圈,
0910-用于无损检测和材料测试的电子设备,
0910-用于检测传导材料的设备,尤其是金属材料,即材料的缺陷、表面缺陷以及材料的不均匀性的检测设备,
0910-用于测量电气、磁性以及其他物理性能的电子设备,
0910-用于测量磁化、饱和感应和矫顽场强度的电子设备,
0910-用于测量磁流密度和相对磁导率的电子设备,
0910-通过成像手段方式进行材料无损检测的电子设备,尤其是通过热谱方式,
0910-通过涡电流的测定方式进行材料无损检测的电子设备,
0910-通过磁场的测定方式进行材料无损检测的电子设备,
0910-通过超声波的测定方式进行材料无损检测的电子设备,
0910-金属物体的探测器,
0913-上述产品的零部件,
0913-用于上述设备的探测器、传感器、检测头以及探测线圈
0901-上述产品的零部件;0901-用于控制电子设备以及评估其信息并展示其信息的录制在数据载体上的软件和程序;0901-用于控制电子设备和评估其信息的电子数据处理设备;0910-上述产品的零部件;0910-用于上述设备的探测器、传感器、检测头以及探测线圈;0910-用于无损检测和材料测试的电子设备;0910-用于检测传导材料的设备,尤其是金属材料,即材料的缺陷、表面缺陷以及材料的不均匀性的检测设备;0910-用于测量电气、磁性以及其他物理性能的电子设备;0910-用于测量磁化、饱和感应和矫顽场强度的电子设备;0910-用于测量磁流密度和相对磁导率的电子设备;0910-通过成像手段方式进行材料无损检测的电子设备,尤其是通过热谱方式;0910-通过涡电流的测定方式进行材料无损检测的电子设备;0910-通过磁场的测定方式进行材料无损检测的电子设备;0910-通过超声波的测定方式进行材料无损检测的电子设备;0910-金属物体的探测器;0913-上述产品的零部件;0913-用于上述设备的探测器、传感器、检测头以及探测线圈 - 2023-12-17-2033-12-17
- 国际局
2024-01-26 国际续展 | 申请核准审核
2024-01-21 国际续展 | 申请收文
2015-02-11 领土延伸 | 审查
2014-05-01 领土延伸 | 申请收文
- FOERSTER F
- G1200781
- 已注册
- 普通商标
- 2014-05-01
0901 , 0910 , 0913 0901-上述产品的零部件,
0901-用于控制电子设备以及评估其信息并展示其信息的录制在数据载体上的软件和程序,
0901-用于控制电子设备和评估其信息的电子数据处理设备,
0910-上述产品的零部件,
0910-用于上述设备的探测器、传感器、检测头以及探测线圈,
0910-用于无损检测和材料测试的电子设备,
0910-用于检测传导材料的设备,尤其是金属材料,即材料的缺陷、表面缺陷以及材料的不均匀性的检测设备,
0910-用于测量电气、磁性以及其他物理性能的电子设备,
0910-用于测量磁化、饱和感应和矫顽场强度的电子设备,
0910-用于测量磁流密度和相对磁导率的电子设备,
0910-通过成像手段方式进行材料无损检测的电子设备,尤其是通过热谱方式,
0910-通过涡电流的测定方式进行材料无损检测的电子设备,
0910-通过磁场的测定方式进行材料无损检测的电子设备,
0910-通过超声波的测定方式进行材料无损检测的电子设备,
0910-金属物体的探测器,
0913-上述产品的零部件,
0913-用于上述设备的探测器、传感器、检测头以及探测线圈
0901-上述产品的零部件;0901-用于控制电子设备以及评估其信息并展示其信息的录制在数据载体上的软件和程序;0901-用于控制电子设备和评估其信息的电子数据处理设备;0910-上述产品的零部件;0910-用于上述设备的探测器、传感器、检测头以及探测线圈;0910-用于无损检测和材料测试的电子设备;0910-用于检测传导材料的设备,尤其是金属材料,即材料的缺陷、表面缺陷以及材料的不均匀性的检测设备;0910-用于测量电气、磁性以及其他物理性能的电子设备;0910-用于测量磁化、饱和感应和矫顽场强度的电子设备;0910-用于测量磁流密度和相对磁导率的电子设备;0910-通过成像手段方式进行材料无损检测的电子设备,尤其是通过热谱方式;0910-通过涡电流的测定方式进行材料无损检测的电子设备;0910-通过磁场的测定方式进行材料无损检测的电子设备;0910-通过超声波的测定方式进行材料无损检测的电子设备;0910-金属物体的探测器;0913-上述产品的零部件;0913-用于上述设备的探测器、传感器、检测头以及探测线圈 - 2023-12-17-2033-12-17
- 国际局
2024-01-26 国际续展 | 申请核准审核
2024-01-21 国际续展 | 申请收文
2015-02-11 领土延伸 | 审查
2014-05-01 领土延伸 | 申请收文
