【NANO METROLOGY】商标详情
- NANO METROLOGY
- 18030099
- 已驳回
- 普通商标
- 2015-10-09
4209 , 4220 4209-技术咨询,
4209-技术研究,
4209-技术项目研究,
4209-替他人研究和开发新产品,
4209-机械研究,
4209-质量检测,
4209-质量评估,
4220-云计算,
4220-计算机硬件设计和开发咨询,
4220-计算机编程
4209-技术咨询;4209-技术研究;4209-技术项 目研究;4209-替他人研究和开发新产品;4209-机械研究;4209-质量检测;4209-质量评估;4220-云计算;4220-计算机硬件设计和开发咨询;4220-计算机编程 - 深圳市纳诺测量技术有限公司
- 广东省深圳市************
- 深圳市智财家法务咨询有限公司
2016-10-08 商标注册申请 | 等待驳回复审
2016-08-11 商标注册申请 | 商标注册申请驳回通知发文
2016-08-11 商标注册申请 | 驳回通知发文
2016-01-15 商标注册申请 | 受理通知书发文
2016-01-15 商标注册申请 | 商标注册申请受理通知书发文
2015-10-09 商标注册申请 | 商标注册申请中
2015-10-09 商标注册申请 | 申请收文
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4209-技术项目研究,
4209-替他人研究和开发新产品,
4209-机械研究,
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4220-计算机编程
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