【ENVIRO】商标详情
- ENVIRO
- G1302957
- 待审中
- 普通商标
- 2016-07-14
0901 , 0910 , 0913 , 0914 0901-使用基于电子、离子和光子的分光镜和显微镜方法用于材料分析的数据处理计算机设备和软件,
0901-科学设备和仪器,特别是用于电子光谱、离子光谱以及气体和元素分析的设备和仪器,
0901-计算机程序,即传输、处理、编辑以及分析数据的计算机程序和用于控制使用基于电子、离子和光子的分光镜和显微镜方法用于材料分析的 科学设备和仪器的计算机程序,
0910-使用基于电子、离子和光子的分光镜和显微镜方法用于材料分析的 测量装置和仪器,
0910-使用紫外线光、X射线辐射以及电子的激发光源,
0910-用于科学设备和仪器以及用于测量设备和仪器的附加装置,尤其是扫描探针显微镜的测量摆锤,
0910-科学设备和仪器,特别是用于电子光谱、离子光谱以及气体和元素分析的设备和仪器,
0913-探测仪和传感器,特别是用于科学目的探测仪和传感器,尤其是用于电子光谱和气体分析以及测量设备和仪器的探测仪和传感器,
0914-电气和电子控制装置和仪器,即用于使用基于电子、离子和光子的分光镜和显微镜方法用于材料分析的科学设备和仪器的控制
0901-使用基于电子、离子和光子的分光镜和显微镜方法用于材料分析的数据处理计算机设备和软件;0901-科学设备和仪器,特别是用于电子光谱、离子光谱以及气体和元素分析的设备和仪器;0901-计算机程序,即传输、处理、编辑以及分析数据的计算机程序和用于控制使用基于电子、离子和光子的分光镜和显微镜方法用于材料分析的 科学设备和仪器的计算机程序;0910-使用基于电子、离子和光子的分光镜和显微镜方法用于材料分析的 测量装置和仪器;0910-使用紫外线光、X射线辐射以及电子的激发光源;0910-用于科学设备和仪器以及用于测量设备和仪器的附加装置,尤其是扫描探针显微镜的测量摆锤;0910-科学设备和仪器,特别是用于电子光谱、离子光谱以及气体和元素分析的设备和仪器;0913-探测仪和传感器,特别是用于科学目的探测仪和传感器,尤其是用于电子光谱和气体分析以及测量设备和仪器的探测仪和传感器;0914-电气和电子控制装置和仪器,即用于使用基于电子、离子和光子的分光镜和显微镜方法用于材料分析的科学设备和仪器的控制 - 2016-03-18-2026-03-18
- SPECS SURFACE NANO ANALYSIS GMBH
- 柏林柏林************
2017-07-05 领土延伸 | 等待驳回电子发文
2017-07-05 领土延伸 | 驳回电子发文
2017-05-23 国际部分注销 | 申请收文
2016-07-14 领土延伸 | 申请收文
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- 2016-07-14
0901 , 0910 , 0913 , 0914 0901-使用基于电子、离子和光子的分光镜和显微镜方法用于材料分析的数据处理计算机设备和软件,
0901-科学设备和仪器,特别是用于电子光谱、离子光谱以及气体和元素分析的设备和仪器,
0901-计算机程序,即传输、处理、编辑以及分析数据的计算机程序和用于控制使用基于电子、离子和光子的分光镜和显微镜方法用于材料分析的 科学设备和仪器的计算机程序,
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0910-使用紫外线光、X射线辐射以及电子的激发光源,
0910-用于科学设备和仪器以及用于测量设备和仪器的附加装置,尤其是扫描探针显微镜的测量摆锤,
0910-科学设备和仪器,特别是用于电子光谱、离子光谱以及气体和元素分析的设备和仪器,
0913-探测仪和传感器,特别是用于科学目的探测仪和传感器,尤其是用于电子光谱和气体分析以及测量设备和仪器的探测仪和传感器,
0914-电气和电子控制装置和仪器,即用于使用基于电子、离子和光子的分光镜和显微镜方法用于材料分析的科学设备和仪器的控制
0901-使用基于电子、离子和光子的分光镜和显微镜方法用于材料分析的数据处理计算机设备和软件;0901-科学设备和仪器,特别是用于电子光谱、离子光谱以及气体和元素分析的设备和仪器;0901-计算机程序,即传输、处理、编辑以及分析数据的计算机程序和用于控制使用基于电子、离子和光子的分光镜和显微镜方法用于材料分析的 科学设备和仪器的计算机程序;0910-使用基于电子、离子和光子的分光镜和显微镜方法用于材料分析的 测量装置和仪器;0910-使用紫外线光、X射线辐射以及电子的激发光源;0910-用于科学设备和仪器以及用于测量设备和仪器的附加装置,尤其是扫描探针显微镜的测量摆锤;0910-科学设备和仪器,特别是用于电子光谱、离子光谱以及气体和元素分析的设备和仪器;0913-探测仪和传感器,特别是用于科学目的探测仪和传感器,尤其是用于电子光谱和气体分析以及测量设备和仪器的探测仪和传感器;0914-电气和电子控制装置和仪器,即用于使用基于电子、离子和光子的分光镜和显微镜方法用于材料分析的科学设备和仪器的控制 - 2016-03-18-2026-03-18
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